現代農作物生產的一個嚴重問題是種子材料的品質:隱藏的損壞可能導致產量下降。 在這方面,在播種或儲存前評估種子的品質具有很大的實際意義。 目前的農業發展水平需要使用自動化、準確的方法來評估種子質量,從而可以在短時間內獲得最大量的資訊。
是以聖彼得堡國立電子技術大學“LETI”命名的。 在和。 烏裡揚諾夫(列寧)開發了一種微焦點 X 射線電腦斷層掃描儀,在俄羅斯還沒有類似的設備,這將使獲得種子的三維圖像以識別種子材料中的微觀缺陷成為可能。 這是網站上報導的 大學.
「在我們大學的基礎上,開發出了微焦點X射線電腦斷層掃描儀,這使得獲得斷層影像,即高解析度三維影像—可識別結構的最小尺寸為幾微米(一微米是千分之一毫米)。 因此,可以高精度地對各種物體進行研究和診斷:從考古文物到電子元件。 聖彼得堡EPU 系副教授維克托·鮑里索維奇·貝索諾夫(Viktor Borisovich Bessonov) 評論道:「該斷層掃描儀樣本將於今年年底交付給尼基茨基植物園,在它的幫助下,研究植物種子的缺陷成為可能。」國立電子技術大學「LETI」。
研究人員指出,所開發的斷層掃描儀在許多特性上都優於現有的國外同類產品。 因此,LETI 創建的 X 射線源可以實現非常高分辨率和高穿透力 - 這意味著與當今市場上其他類似斷層掃描儀相比,該斷層掃描儀可以掃描更大體積的物體。
當對單一種子進行精確研究以及隨後將種子的斷層圖與其生長潛力進行比較並預測田間發芽時,該裝置特別有意義。 種子在微焦點 X 射線斷層掃描儀上拍照後,完全保留其活力,這在評估來自 VIR(全俄羅斯植物生長和區域品種站點)世界收藏的品種樣品和雜交種的質量時尤其必要。
該斷層掃描儀由安裝在特殊室中的 X 射線源組成,用於研究的樣品放置在該室中。 資訊處理是使用 LETI 開發的軟體進行的。 它允許您可視化和重建有關所研究對象的資料。 該裝置由國內生產的零件組裝而成。
電腦斷層掃描儀的開發是聖彼得堡電子技術大學「LETI」電子儀器和設備系的大範圍工作項目之一,旨在創建微焦點系統(設備、軟體和使用方法)用於物體高精度快速診斷的放射線照相術,以提高俄羅斯農作物生產的品質和生產力。 這方面的工作正在電子控制部門負責人尼古拉·尼古拉耶維奇·波特拉霍夫(Nikolai Nikolaevich Potrakhov)的領導下進行。
因此,2021 年,EPU 部門的員工與農業物理研究所(AFI,聖彼得堡)的專家一起創建了新一代移動 X 射線和 X 射線斷層掃描綜合設備,用於種子的快速診斷,以及作為它們的使用方法。 安裝的工作樣本已移交給 API 工作人員進行研究。
此外,2022 年,LETI 和聯邦蔬菜種植科學中心(莫斯科)的科學小組開發了一種利用射線照相技術來識別蔬菜種子缺陷的方法。 從長遠來看,LETI 研究人員與各個科學組織一起計劃創建方法來識別所有經濟上重要的植物物種的種子材料缺陷。
特別值得一提的是,來自AFI和聖彼得堡電子技術大學「LETI」的科學家小組在米哈伊爾·瓦季莫維奇·阿爾希波夫教授的領導下,制定了國家標準GOST R59603-2021《農業種子》。 數位放射線攝影方法」。 該文件於1年2022月XNUMX日生效。 它旨在刺激國內種子基地的發展,確保俄羅斯工業種子生產的可持續成長,並減少俄羅斯農業生產者對外國供應商的依賴。